Читать «Перелом. Часть 3» онлайн - страница 126

Само собой, тут потребуются уже круговые, а не линейные шкалы, но они у нас тоже были - народ учился ловить люфты программным способом, для чего навешивал на валы датчики и отмерял количество импульсов по каждому механическому звену - скажем, если вал двигателя провернулся уже на десять делений, а сцепленная с его шестеренкой другая шестеренка - только начала выдавать импульсы - уже можно посчитать зазор в кинематической паре шестерня двигателя - первая шестерня редуктора. А ведь эти датчики можно навешать вплоть до ходового винта, и таким образом можно посчитать полный люфт привода, с выявлением "слабого звена", а если учесть датчик линейного хода, то и полный люфт системы двигатель-инструмент. Это полезно не только для расчетов перемещения и обработки, но и для отслеживания состояния станка - не пора ли менять в нем детали, а то и вовсе списывать в учебные учреждения, чтобы школьники окончательно его доломали.

Впрочем, и помимо этих тонкостей с люфтами работы предстояло еще много. Мы ведь научились измерять только перемещения агрегатов станка, но не размеры обрабатываемой детали. А там было еще много тонкостей, и даже если суппорт перемещается с высокой точностью, это не значит, что деталь попадет в размеры - там и износ резца, и тепловые деформации при обработке, и отгиб детали или резца из-за недостаточной жесткости - для измерения всех этих величин требовались датчики и алгоритмы. А для алгоритмов были нужны не только программы, но и аппаратура, которая сможет их отрабатывать.

Тут как раз и пригодилась случайно разработанная станочниками схема измерения вибраций, которую электронщики утащили на свое оборудование. А то у них была беда - они вышли на проектные нормы менее десятка микрон, но все получалось очень размытым. И было подозрение, что из-за вибраций, а чем их померять - непонятно. А тут - готовая схема, а главное - идея, которая в дальнейшем помогла во взятии новых рубежей. Ведь с новыми проектными нормами было еще много проблем, а спускаться ниже десяти микрометров мы в массовом производстве пока точно не могли - опыт изготовления в лабораториях единичных микросхем по более тонким процессам ставил больше вопросов чем давал ответов.